16 июня 2015 г. в 11.00 мск. состоится шестой вебинар из цикла вебинаров по атомно-силовой микроскопии: "ИК-АСМ: инфракрасная спектроскопия и микроскопия с нанометровым разрешением для исследования наноматериалов, композитов и биообъектов".
-
В чем заключается метод ИК-АСМ микроскопии?
-
Возможно ли преодолеть дифракционный барьер и производить картирование поверхности, получая ИК спектры поглощения с пространственным разрешением всего несколько десятков нанометров?
-
Как наблюдать плазмонные эффекты в наноматериалах с помощью ИК-АСМ?
-
Промышленный шпионаж в анализе композитных материалов – какие методы использовать?
-
Как работает метод нано-термоанализа?
Эти и другие вопросы будут подробно освещены в ходе нашего вебинара. Участники вебинара смогут задать свои вопросы докладчику.
Докладчик: Иван Леонидович Волков, к.ф.-м.н., специалист по применению атомно-силовой микроскопии Московского представительства компании INTERTECH Corporation volkov@intertech-corp.ru
Участие в вебинаре - бесплатное, по предварительной регистрации. Число участников - ограничено. Зарегистрируйтесь сейчас, чтобы гарантированно принять участие в вебинаре 16 июня 2015 г.
|
Специальный приз
Участник, отправивший до 15 июня 2015 г. (включительно) лучший вопрос по тематике вебинара на e-mail marketing@intertech-corp.ru , получит в подарок книгу: “Фурье-КР и Фурье-ИК спектры полимеров” А. Х. Купцов, Г. Н. Жижин. Изд-во “Техносфера”, 696 стр, 2013 г.
О книге »
|
Скачать файл