Контактные телефоны:
+375 17396 74 20
+375 29652 47 15

Атомно-силовой микроскоп MFP-3D Stand Alone

 

MFP-3D Stand Alone (MFP-3D-SA) AFM является атомно-силовым микроскопом (АСМ), разработанным компанией Asylum Research Inc. Это высоко чувствительный и прецизионный инструмент с высоким уровнем шумоподавления, с полным набором программного обеспечения для реализации различных методик.

Специалисты Asylum Research Inc. разработали атомно-силовой микроскоп для самых различных направлений исследований c высочайшей точностью и качеством проводимых исследований - MFP-3D Stand Alone (MFP-3D-SA) AFM. Высокая стабильность, прецизионность, предельно низкий уровень шумов конструкции.


 

Уникальные разработанные технологии компании Asylum Research Inc., внедренные в атомно-силовом микроскопе MFP-3D Stand Alone AFM подняли планку исследовательских задач, повысив функциональность, возможности атомно-силовой микроскопии. 

Микроскоп удовлетворяет требованиям как специалистов в области сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), так и поможет быстро и эффективно приступить к исследованиям начинающим специалистом в области СЗМ.

Технические инновационные разработки Asylum Research Inc., внедренные в микроскопе MFP-3D™ Stand Alone:

- Сенсорные датчики обратной связи позиционирования с высочайшим разрешением, точностью и воспроизводимостью NanoPositioning System (NPS™).

- Современный цифровой контроллер с открытым программным доступом для полной совместимости, большими возможностями и гибкостью работы.

- Встроенные продвинутые функции: 3D воспроизведение в реальном времени, нанолитография/наноманипулирование и режим Dual AC™ получения изображения в режиме двух-частотного гармонического резонирования.

- Разработанный дизайн и конструкция MFP-3D™ Stand Alone обладают гибкими и многофункциональными способностями, с широким спектром доступных системных опций и приставок для исследования в различных средах и областей применения для увеличения функциональности прибора.

 

Рис. Конструкция зондового держателя

Сенсорный оптический датчик с высоким разрешением ограниченным дифракционным пределом и низкокогерентным лазерным источником, уменьшающим интерферционные артефакты. Система нанопозиционирования NPS™ обеспечивает по оси Z сверхточное измерение положения кантилевера для получения нанометровых измерений межатомных сил и топографии поверхности с атомным разрешением.

 

Рис. Сверточная настройка зонда NPS™

MFP-3D XY сканер позиционирования

MFP-3D XY Scanner - имеет характеристики точности и воспроизводимости, превосходящие любые другие трубчатые сканеры.

В микроскопе MFP-3D установлен изогнутый сканер и запатентованная система сканеров NPS™, которая контролирует движение по всем координатам с высочайшей точностью. Сканеры учитывают гистерезис и крип пьезокерамики, обеспечивающее плоское сканирование и возможность точного увеличения и смещения одним кликом мыши.

Рис. Платформа MFP-3D

Платформа MFP-3D и оптическая система наблюдения за образцом

Реализовано три конфигурации для оптического наблюдения за образцом:

  •     Вид сверху для непрозрачных образцов;
  •     Вид снизу для прозрачных образцов;
  •     Совмещение видов сверху и снизу для полного контроля над образцом.

 

 

Полностью цифровой контроллер и адаптируемое программное обеспечение позволяет осуществлять виртуальную работу и контроль за целой системой через MFP программный интерфейс (IGOR Pro) для простого дополнения новых возможностей микроскопа.

• 100% цифровое управления для низкого уровня шумов, быстрой работы и высокой функциональностью;

• Программируемые логические интегральные схемы (FPGA) и Цифровой сигнальный процессор;

• Быстрый аналого-цифровой и цифро-аналоговый преобразователь.

 

 

Режимы работы атомно-силового микроскопа MFP-3D Stand Alone AFM:

  • Режим контактной атомно-силовой микроскопии (C-AFM):
                    Детектируемые сигналы:
                            - высота (расстояние по Z зонд-образец)
                            - отклонение кантилевера
                            - латеральная сила (LFM)
                    Используется обратная связь по отклонению кантилевера.
  • Режим полуконтактной атомно-силовой микроскопии (NC-AFM) и Dual AC™::
                    Детектируемые сигналы:
                            - высота (расстояние по Z зонд-образец);
                            - амлитуда/фаза колебаний кантилевера;
                            - контроль величин I/Q;
                            - латеральная сила (LFM);
                            - отклонение кантилевера;
                            - цифровой контроль Q-величины;
                    Используется Q-контролируемое сканирование с обратной связью по амплитуде колебаний кантилевера. Режим работы на воздухе и в жидкости.
  • Режим силовой спектроскопии:
                   Построение кривой силы взаимодействия зонд-образец от расстояния, построение карт силовых взаимодействий на участке образца в контактном или полуконтактном режимах. Управление частотой колебания и обратной связью позволяет получать различные типы зависимостей силового взаимодействия зонд-образец.
  • Фрикционно-Cиловая микроскопия (FFM)
  • MicroAngelo: встроенная опция нанолитографии и наноманипулирования.
  • Cиловая спектроскопии пьезоотклика (PFM): определение свойств образца (корреляции электрических и механических свойств) под локальным воздействием зонда с приложенным электрическим напряжением. Обеспечивается высокая чувствительность, широкий диапазон изменения напряжения и свободные измерения пьезоэлектрических свойств образца.
  • Электро-Cиловая микроскопия (EFM): определение контраста электрических свойств образца, локальная модификация образца под воздействием электрического поля кантилевера.
  • Магнитно-Cиловая микроскопия (МFM)
  • Сканирующий Метод Зонда Кельвина (SKPM)
  • Распределение потенциала по поверхности
  • Частотно модулированная атомно-силовая микроскопия
  • Сканирование в жидкости
     

 Дополнительные режимы:

  • Проводящая атомно-силовая микроскопия - модуль ORCA™: обеспечивает измерения с низкими токами при постоянном приложенным напряжением для одновременного исследования силовых и электрических характеристик образца.
  • Режим СТМ с модулем ORCA™.
  • iDrive™ система магнитного возбуждения для исследования "мягких" образцов в жидкости. 
  • Сканирующая термомикроскопия (SThM)
  • Групповое возбуждение (Band Excitation) для измерения свойств материала: новый метод основан на возбуждении и определении сигнала, имеющего органиченную амплитуду в области Фурье. Детектируемый сигнал имеет трансформирование Фурье и соотнесен с соответствующей моделью. Этот режим позволяет увеличить скорость получения данных полного частотного отклика в каждой точке изображения и в частоности обеспечивает прямое измерение эенргии рассеивания через определение Q-фактора системы кантилевер-образец.
 
 
 
 
 
 


 

Оборудование