Измерительная оптическая система
-
Отклонение по шуму - <20 пм
-
Диапазон частот - от контактного до 7 МГц
-
Источник лазера - сменный, по выбору пользователя. Включает сверхлюминесцентный диод и лазерный диод. Длина волны зафиксирована и равна 850 нм.
-
Размер луча - по выбору пользователя, изменяемый. Сфокусированный размер изменяется от 10x30µm до 3x9мкм.
-
Оптическая систеа контроля - сфокусированный луч лазера позиционируется на кантилевере и диод центрируется при помощи полностью моторизированной системой, управляемой программно.
Сканер (система держателя зонда)
Различные модули сканеров доступны в зависимости от приложения. Все сканеры включают XYZ возбуждение, также как моторизированная система кантилевера. Технические характеристики стандартного модуля:
-
Диапазон сканирования - латеральное по осям XY 30/40мкм (с закрытой/открытой системой обратной связью). Диаазон по Z - 5/7мкм (с закрытой/открытой системой обратной связью).
-
Система позиционирования NPS™ Сенсор шума: цифровые LVDT сенсоры. Шум по осям XY < 60 пм. Сканирование с замкнутой системой с обратной связью позволяет получить атомное разрешение (размер скана <10 нм) эквивалентно сканированием с большим масштабом более 1 мкм).
-
Виброизолирование - <10пм при колебаниях пола с ускорением 1 мм/с2.
-
Дрифт системы по осям XY - <20/150нм/°C (c/без модуля контроля температуры).
-
Латеральное смещение - смещение <10нм при движении 1мкм. Наклон менее 10нм за целое сканирование.
-
Размеры образца - 15/7 мм ( диаметр/толщина)
-
Условия сканирования образца - Стандартные условия: воздух, капли или камера для легкого выпаривания/опрыскивания
Оптическая система наблюдения
Доступны различные оптические модули для контроля кантилевера и образца сверху в зависимости от приложения микроскопа. Параметры стандартного модуля представлены ниже:
-
Конфигурация - Яркая область/отраженный луч;
-
Источник излучения - LED свтодиод, на базе системы освещения Köhler c ручным управлением аппертуры и диафрагмой осветителя. Интенсивность освещения управляется программно;
-
Разрешение -ограничивается дифракционным пределом (<1мкм) с апохроматической коррекцией. NA = 0.45;
-
Область просмотра -690x920мкм;
-
Камера - 3.1 Мп CMOS камера с интерфейсом FireWire. Цифровое увеличение/перемещение/захват изображения; программное управление балансом белого, выдержкой
Держатели образцов
Широчайший спектр держателей образцов для всех типов исследований (держатели для биотехнологии с подогревом, для жидкостных методик, держатели с внешним воздействием магнитного поля и др.)
Система электроники
Доступны различные оптические модули для контроля кантилевера и образца сверху в зависимости от приложения микроскопа. Параметры стандартного модуля представлены ниже:
Аналого-цифровой преобразователь:
-
Два канала 16-бит, 80МГц;
-
Один канал 16-бит, 5МГц;
-
Шесть каналов 18-бит, 2МГц;
-
Пять каналов 16-бит, 100кГц;
Буфер сбора информации:
Цифро-аналоговый преобразователь:
-
Четыре канала 16-бит, 40МГц;
-
Один канал 16-бит, 10МГц;
-
Четыре канала 24-бит, 1.25МГц;
-
Один канал 24-битt, 400кГц;
-
Пять каналов 24-бит, 100кГц;
Программное обеспечение:
-
Программное обеспечение устройств в процессе работы может быть обновлено. Модули включают: синхронный усилитель, Q-контроль, IIR фильтры и систему обратной связи.
-
Программируемое логическое интегральное устройство
-
Программирование логического интегрального устройства с частотой до 667МГц;
Процессор
-
Плавающая точка цифрового процессора сигналов с частотой до 80 МГц.
-
Двух-ядерный процессор NIOS в ПЛИС.
-
Двухчастотный цифровой синхронный усилитель:
-
Два двухчастотной квадратуры, 20МГц;
-
Одна двухчастотная квадратура, 5МГц;
-
Частотный генератор:
-
Два двухчастотного генератора выходной частоты до 40МГц. Частотный диапазон до 15МГц с шагом 9 мГц;
-
Один двухчастотный генератор выходной частоты до 10МГц. Частотный диапазон до 2МГц с шагом 2 мГц.
-
Двойной квадратурный выход
-
R1,2/ϑ1,2 (амплитуда/фаза)
-
I1,2/Q1,2 (Rcosϑ/Rsinϑ) для каждого замкноутого контура.
-
Цифровое управление за параметром Q:
-
диапазон 2кГц - 20МГц
-
Петля обратной связи:
-
Контроллер множественного пропорционального усиления и более продвинутые контроллеры (такие как H∞). Как минимум:
-- Шесть контуров на частоте 100кГц;
-- Десять контуров на частоте 2МГц.
-
Фильтры множественных импульсных откликов (IIR):
-
IIR фильтры работают на частоте 2 МГЦ и 100кГц. Существует 4 типа прграммно управляемых IIR фильтров (DC на частоте 50кГц): низкочастотный, высокочастотный, ширкополосный и групповое отсечение.
Источник питания:
-
Низкое напряжение: 15, +7, 3.3В;
-
Высокое напряжение: 150В;
-
Дополнительно: +150В для пьезосиловой микроскопии
Программно управляемые выключатели:
-
XY высокое напряжение;
-
Z высокое напряжение;
-
Лазерное излучение.
USB PC компьютер к контроллеру соединения (Controller Communication):
-
Сопоставимый со многими компьютерами под системой XP (включая портативные компьютеры).
Обработка и получение данных:
-
Размер данных ограничивается только памятью компьютера (10 млн точек и 8кбх8кб изображения).
-
Дополнительно непрерывное круговое движение быстрый буфер обмена информации позволяет получать данные с высокой скоростью на комьютер в любое время.
Компьютер:
-
Минимальные требования: Dell Precision T3400 mini-tower, 2.40Ггц Quad Core, 2ГБ RAM, 160ГБ SATA RAID hard drive, 16x DVD RW, два монтира 20” LCD (30” дополнительный), 525Вт блок питания, Windows XP Pro.
Программное обеспечение:
-
Программное обеспечение основано на IGOR Pro, WaveMetrics, мощный сбор данных и научная среда исследования. Октрытый код доступа пользователя к программной среде
Система виброзащиты
-
Виброзащита - включает пассивное виброгашение с частотой fo=7Гц, Q~1. Cypher AFM имеет исключительную вибро-невосприимчивость для работы в режиме высокого разрешения с колебаниями пола > 1мм/с2;
-
Акустическая защита: Включает акустическое экранирование, обеспечивающее изоляцию до 20дБ;
-
Температурный контроль: Включает температурное стабилизирование от 0,1°C с модулем управления температрой.
Дополнительные особенности
-
Нелинейные кривые соответствующие произвольным, задаваемым пользователем функциям.
-
Всесторонний анализ изображений, включающий 2D разложение Фурье (FFT), волнообразное преобразование, извилистость, линейное профилирование, анализ частиц, измерение высот (восемь методов, включая метод Собель (Sobel)) и установление порогов (пять методов, включая неточной энтропии);
-
Автоматическое спектральное сопоставление и калибрование констант жесткости кантилевера, используя температурный шум и метод Задер (Sader method).
-
Удобное создание отчетов и графиков для научных пуюликаций
Система отображения данных
-
Обработка, рендеринг 3D изображений в реальном времени, также в режиме сканирования.
-
Наложение альтернативных каналов данных с первичным изучением корреляции;
-
Независимое масштабирование по осям для верного соотношения сторон;
-
Удобное управление курсором мыши - вращение, масштабирование и управление цветом;
-
Экспорт 3D изображений в буфер, JPEG, TIFF, BMP, PNG;
-
Создание стерео-изображения из 3D вида
<< Назад