Контактные телефоны:
+375 17396 74 20
+375 29652 47 15

РФЭС спектрометр K-Alpha

 
К-ALPHA – полностью интегрированный РФЭ спектрометр. Максимально компактный и простой в обращении прибор, сочетающий разумную цену с высокой функциональностью. Все процессы максимально автоматизированы, все операции проводятся без вмешательства пользователя (за исключением загрузки образца). Система укомплектована ионной пушкой с функцией зарядовой нейтрализации. 128-канальный анализатор для картирования поверхности с высоким разрешением. Автоматическое создание отчёта.

Прекрасные возможности для проведения анализа, низкая стоимость и компактные размеры сделали K-Alpha идеальным решением как для традиционных, так и для новых областей применения анализа поверхности. Всего за год существования на рынке прибор приобрел чрезвычайную популярность и широко используется в биомедицинских лабораториях и центрах исследования наноматериалов по всему миру.

Конфигурация

Микрофокусный монохроматизированный источник рентгеновского излучения для быстрого и эффективного проведения анализа
  •     Определение химических состояний элементов
  •     Возможность непрерывного изменения анализируемой площади (от больших площадей до 30 мкм)
  •     Неразрушающий анализ
  •     Простота позиционирования пятна на поверхности
  •  Картирование поверхности, возможность сканирования вдоль линии с микронным разрешением.

 

Электронная оптика последнего поколения, обеспечивающая максимальную точность и высокую интенсивность

  •     Новейшая конструкция линз
  •     Анализатор высокого разрешения
  •     Получение данных как в параллельном режиме, так и в режиме сканирования
  •     Режим снимка для быстро картирования поверхности и профилирования по глубине
  •     Превосходные пределы обнаружения для РФЭС
  •     Точное позиционирование образца для большей уверенности в получаемых результатах
  •     Максимальная точность позиционирования образца

Уникальная система подсветки

  •     Запатентованная система наблюдения за образцом (используются 3 камеры)
  •     Система отражающей оптики для выбора области анализа


Новейшая ионная пушка для эффективного распылительного профилирования

  •     Оптимальная скорость травления
  •     Режим низкоэнергетических электронов
  •     Возможность вращения образца
  •     Режим высокого тока для повышения скорости травления
  •     Автоматическая настройка и юстировка

Новая система компенсации заряда для исследования непроводящих образцов

  •  Возможность получения спектров высокого разрешения
  •  Исследование любого типа образцов
  •  Анализ больших и малых площадей поверхности
  •  Не требуется вмешательства пользователя

Геометрия всех компонентов аналитического оборудования была учтена для оптимизации работы прибора. Схема расположения компонентов представлена на рисунке 3. Система обладает несколькими важными особенностями:

- ось промежуточной линзы перпендикулярна поверхности образца, что обеспечивает максимальную эффективность сбора данных;

- оптика Reflex всегда обеспечивает линейное изображение анализируемого образца, также перпендикулярно поверхности образца. Это обеспечивает наилучшие условия для наиболее точного определения позиции образца;

- камера для установки высоты позволяет точно определить правильное положение образца при анализе малых площадей и правильную высоту для достижения оптимальной чувствительности;

- рентгеновское излучение проходит через фокусирующий монохроматор. Это позволяет пользователю определить площадь анализа и обеспечивает максимальную чувствительность при анализе малых площадей;

- новая ионная пушка позволяет получать профили распределения концентрации по глубине с отличным разрешением. Она направляет пучок низкоэнергетических ионов в точку малого диаметра, в результате чего достигается хорошее разрешение при высокой скорости анализа;

- новый нейтрализатор разработан таким образом, что пользователю нужно только включить его, если требуется провести анализ изоляторов - не требуется какой-либо дополнительной юстировки или оптимизации;

- подсветка образца крайне важна для получения высококачественного изображения образца в реальном времени. Система K-Alpha оборудована осветителями двух типов. Один дает коаксиальное освещение для оптики Reflex, идеальное для образцов с гладкой поверхностью. Другой источник света дает неосевое освещение, которое идеально подходит для образцов с шероховатой поверхностью.

Аналитическая камера изготовлена из цельного куска сплава никеля с железом. Это обеспечивает отличное экранирование. Точность изготовления сводит к минимуму необходимость юстировки компонентов. Для прокачки используется турбомолекулярный насос в комбинации со роторным форвакуумным и сублимационным насосами.

Архитектура системы K-Alpha:

 

Картирование поверхности - определение распределения компонентов

Многоканальный детектор в системе K-Alpha позволяет мгновенно получать спектры высокого разрешения. Это означает, что спектр можно получить для каждой точки изображения. К каждой точке также можно применить все функции обработки данных программного обеспечения Avantage, включая функцию аппроксимации спектров и учета фона. Это позволяет пользователю получать количественные карты распределения элементов в различных химических состояниях по поверхности, аналогичные представленной на рисунке ниже. Более подробную информацию Вы можете получить у наших специалистов.

                          Картирование поверхности: (а) карта распределения атомов углерода в состоянии, отвечающем связи C-H, (b) связи С-F.

Распылительное профилирование

Система K-Alpha оборудована новой ионной пушкой, которая особенно эффективна при низких энергиях. Это значит, что система может непрерывно генерировать профили распределения элементов по глубине с отличным разрешением даже для самых "трудных" образцов. В случае необходимости для получения оптимального разрешения по глубине можно использовать азимутальное вращение

               Профили распределения элементов по глубине для фрагмента рентгеновского зеркала, в котором слои чередуются через каждые 7 нм. Для получения профилей использованы ионы аргона с энергией 220 эВ.

 

Функция автоматического создания отчетов
Программное обеспечение Avantage позволяет отказаться от выполнения многих рутинных операций, связанных с проведением анализа. В нем имеется возможность автоматического создания отчетов. Отчет содержит изображения образцов и анализируемой области, все полученные спектры и таблицы количественных результатов для каждого из проанализированных образцов.

Функция автоматического проведения анализа

Система K-Alpha также использует функцию Auto-analyze. Благодаря этой опции пользователь может просто загрузить образцы и указать на изображении Platter View позиции для анализа. После этого прибор автоматически проведет следующие операции:

  • откачка камеры ввода и перемещение образца в камеру анализа;
  • регистрация обзорного спектра;
  • идентификация элементов, присутствующих в обзорном спектре;
  • получение количественных результатов;
  • получение спектров высокого разрешения для идентифицированных элементов для определения их химических состояний;
  • определение химических состояний для идентифицированных элементов и состава образца;
  • переход к следующему образцу и повторение вышеуказанных операций, начиная с операции №2;
  • создание отчета после завершения анализа последнего образца;
  • возврат образцов в манипулятор. Теперь можно загрузить в прибор новый комплект образцов.

<< Вернуться на предыдущую страницу

 
 
 


 

Оборудование